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蔡司Xradia 810 Ultra 納米級X射線成像是一款納米級X射線成像設(shè)備,它在科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)和醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。這款設(shè)備利用X射線對物體進行高分辨率的成像,能夠捕捉到物體內(nèi)部納米級別的細節(jié)。
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相關(guān)文章品牌 | ZEISS/蔡司 | 價格區(qū)間 | 20萬-30萬 |
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探測器類 | 硅漂移探測器(SDD) | 儀器種類 | 進口 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,石油,交通,制藥,綜合 |
蔡司Xradia 810 Ultra 納米級X射線成像是一款納米級X射線成像設(shè)備,它在科學(xué)研究、工業(yè)生產(chǎn)和醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。這款設(shè)備利用X射線對物體進行高分辨率的成像,能夠捕捉到物體內(nèi)部納米級別的細節(jié)。
首先,蔡司Xradia 810 Ultra具有出色的成像性能。它能夠在5.4 keV的低能量下工作,這為中低原子序數(shù)樣品及科學(xué)與工業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的材料成像提供了更出色的反差和圖像質(zhì)量。此外,該設(shè)備還能夠利用吸收襯度和相襯技術(shù)來優(yōu)化大量材料的成像,如聚合物、氧化物、復(fù)合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。
其次,蔡司Xradia 810 Ultra具有很高的成像分辨率。它能夠?qū)崿F(xiàn)空間分辨率高達50 nm、體素尺寸低至16 nm的納米級三維X射線成像。這意味著,這款設(shè)備能夠捕捉到物體內(nèi)部非常微小的結(jié)構(gòu)和細節(jié),為科研人員提供了更為精確和詳實的數(shù)據(jù)支持。
此外,蔡司Xradia 810 Ultra還具有很高的靈活性和可擴展性。它支持三維和四維原位實驗,可以量化納米結(jié)構(gòu)并將數(shù)據(jù)用于建模輸入。這意味著,用戶可以通過該設(shè)備進行多種復(fù)雜的實驗和研究,進一步拓寬了其應(yīng)用領(lǐng)域。
總的來說,蔡司Xradia 810 Ultra 納米級X射線成像是一款非常出色的納米級X射線成像設(shè)備。它具有高分辨率、高反差、高靈活性等優(yōu)點,能夠為科研、工業(yè)生產(chǎn)和醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域提供強有力的技術(shù)支持。隨著科技的不斷發(fā)展,相信這款設(shè)備在未來會有更加廣泛的應(yīng)用和更深入的研究。